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1.
Applied logistic regression / David W. Hosmer ; Stanley Lemeshow

por HOSMER, David W | LEMESHOW, Stanley.

Edición: 2a ed.Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso caracteres normales ; Forma literaria: No es ficción Editor: Nova York : John Willey & Sons, 2000Disponibilidad: No hay ítems disponibles Prestado (1).

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2.
Applied survival analysis : regression modeling of time to event data / David W. HOSMER, Stanley LEMESHOW, Susanne MAY

por HOSMER, David W | LEMESHOW, Stanley | MAY, Susanne [aut.].

Edición: 2a ed.Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York [etc.] : Wiley, cop. 2008Disponibilidad: No hay ítems disponibles Prestado (1).

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